（1）外界电场干扰的影响。这是指电压等级较低的情况，例如在35kV电压等级的电力设备tgδ测试中，容易忽视电场干扰的影响。某单位曾测试过一台35kV电流互感器的tgδ，第一年为0.4%，第二年为2.7%，第三年为3.4%，第四年为0.6%。四年的测试数据变化很大，且无硅铝层，分析判断很困难。经过分析主要是忽视了电场干扰的影响。35kV电压等级的电流互感器、电压互感器、断路器套管由于电容量小，受外界的电场干扰比较大，如果一旦忽视，不进行消除，测试数据就不能反映试品质量的真实情况。

（2）高压标准电容器的影响。现场经常使用的BR-16型标准电容器，电容量为50pF，要求tgδ＜0.1%。由于标准电容器经过一段时间存放、应用和运输，本身的质量在不断变化，受潮、生锈，忽视了这些质量问题，同样会影响测试的数据。

例如，某变电所测试了一只110kV电容式变压器套管，第一天测得tgδ值为0.4%，第二天测得的tgδ却变成0.8%。而两天测得的电容相近。经过分析比较，天气、温度、湿度、安放的位置和环境都一样，主要是使用了两只不同的标准电容器。经测试，第一天用的标准电容器本身的tgδ值为0.6%，第二天用的标准电容器本身的tgδ值为0.1%。

（3）试品电容量变化的影响。在用QS₁型西林电桥测量电力设备绝缘状况时，往往重视tgδ值，而容易忽视试品电容量的变化，从而产生一些事故。

例如，某变电所测试一台套管为充胶型的35kV多油断路器，测试结果是A₁套管tgδ值为2.3%，电容量为180pF,A₂套管tgδ值为2.4%,电容量为240pF，其他四只套管的测试数据同A₂相近，测试结果tgδ值都符合标准要求。

同历年数据比较，发现A₁套管的电容量减小了60pF左右，这是个异常现象。马上对该套管重新测试，并对断路器进行解体分析，发现了A₁套管下部严重漏胶，断路器里的油表面发黑，及时消除了隐患，否则后果不堪设想。因此，为了检出设备缺陷，在重视tgδ值变化的同时，也应重视电容量的变化。

（4）消除表面泄漏的方法。表2-46给出了LCLWD-220型电流互感器在不同空气相对湿度下的tgδ测量值。

由表中数据可见，湿度对试品tgδ值的影响很大，主要是由于表面泄漏造成的。

为消除表面泄漏的影响，有人采用屏蔽环法测量tgδ值，这是完全错误的。因为试品加屏蔽以后，改变了试品的电场分布，导致相角的变化，造成了测量误差。有人曾在试验室里对35kV的电流互感器、110kV的电流互感器、110kV的变压器套管在表面脏污没有清除（即有表面泄漏影响）就装在屏蔽环进行测量，tgδ值却从不合格的数据一直变到很理想的数据。例如，110kV的变压器套管做反接线测量，没有装屏蔽环时，tgδ值为4.3%；在导电杆附近的裙边上依次加装屏蔽环时，第一裙tgδ值为2.9%，第二裙tgδ值为1.9%，第三裙tgδ值为1.4%，第四裙tgδ值为0.7%，第五裙tgδ值为0.4%。tgδ的值越变越理想，而电容量变化幅值不打。正接法测试，结果也相似。可见，这种方法是不能采用的，否则不合格试品会变成合格试品。

消除表面泄漏影响的方法很多，主要有：

1) 在瓷套部分磁裙表面涂有机硅油或硅脂。

2) 在瓷套的部分磁裙表面涂石蜡，并用布擦匀。

3) 用电热风将瓷套的部分磁裙表面吹干。

表2-47给出了瓷套表面涂硅油或石蜡后tgδ值的测量结果。由表可见，效果十分显著。

表2-47 瓷套表面涂硅油和石蜡时的tgδ测量值

套管型式		温度 （℃）	相对湿度 （%）	tgδ（%）
				未涂时	涂硅油 （四裙）	涂石蜡 （四裙）
110kV 油纸电容式	A	26	81	-6.0	0.4	0.5
	B			-6.5	0.3	0.4
	C			-7.2	0.5	0.5

这是因为硅油、石蜡具有增水性能，由于水的界面张力，使水膜凝成不相连的水珠，起到隔离表面泄漏电流通道的作用。

现场测试表明，对表2-47中所示的瓷套管用电热风吹干四个磁裙进行测试，吹干5min内进行测量，其结果基本上与涂有机硅油或涂石蜡的测试结果相同。所以，将试品表面擦干净，再采用电吹风吹干后，应尽量快地进行测量，否则将产生偏小的测量误差。

（5）测试电源的选择。在现场测试中，有时会遇到试验电源与干扰电源不同步，用移相等方法也难以使电桥平衡的情况。某变电做在测量^#1主变110kV电流互感器时就遇到了这种情况。当时变电所内的110kV两条线路，母线和35kV母线处于带电状态，只是^#1主变和10kV系统处于停电检修状态。试验电源由某水电站的35kV线路供给所用变。由于两个电源不是一个系统，它们中间存在一个频率差，它直接影响了电桥检流计的稳定，使电桥无法平衡。后来利用110kV母线电压互感器的二次电压作测试电压，测出了电流互感器的tgδ值，排除了干扰。另外，利用110kV线路电压互感器的二次电压作为测试电源，也可排除干扰，这是因为对该变电所而言，干扰主要来自110kV系统。当试验电源取自110kV系统时，试验电源与干扰电源同步，干扰容易消除。

（6）电桥引线的影响。分析研究表明，在一般情况下，C_X引线长度约为5~10m，其电容约为1500~3000pF；而C_N引线约为1~1.5m，其电容约为300~500pF。当R4=3184Ω和R3较小时，对测量结果影响较小，但若进行小容量试品测试时，就会产生偏大的测量误差。为克服引线电晕的影响，在测量电流互感器等小容量试品时，就会产生偏大的测量误差。为了克服引线电晕的影响，在测量电流互感器等小容量试品时，可用直径为50~100mm的蛇皮管作为高压引线，端部接线要牢固，不应有毛刺。

（7）试验接线方式的影响。测量变压器上套管的tgδ，一般是将变压器绕组与套管导杆一起施加电压，从末屏抽取信号，进入电桥，采用正接线测量。当绕组开路时，绕组激磁电流将通过绕组与套管的电容屏见的杂散电容耦合，进入电桥测量臂，引起测量误差，尤其是中部出现的变压器，绕组与套管间有较强的杂散耦合，进入电桥测量臂，引起测量误差，尤其是中部出线的变压器，绕组与套管间有较强的杂散耦合，引起误差很大。表2-48给出绕组不同连接方式的测量结果。可见接线方式不同，测量结果相差很大。

表2-48 63MVA、220kV变压器套管的tgδ测量值

电压等级 （kV）	单独套管 tgδ(%)	绕组短路 tgδ（%）	绕组开路 tgδ（%）	备注
220	A相0.3 B相0.4 C相0.3	0.3 0.3 0.2	1.8 1.3 1.1	中部出现

为避免上述误差，《规程》规定，测量变压器套管的tgδ时，测量相绕组短路加压，非测量相绕短路接地。